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晶振測試儀的主要技術(shù)指標(biāo)
日期：2025-07-01 18:36
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摘要：
CX-118A晶振測試儀/晶體測試儀/PPM測試儀
產(chǎn)品簡介：
一、CX-118A是高性價比的晶振測試系統(tǒng)，采用微處理器技術(shù)，實現(xiàn)了智能化測量。本系列儀器采用倒數(shù)計數(shù)技術(shù)實現(xiàn)等精度測量。主要功能：頻率測量，PPM測量，周期測量，數(shù)據(jù)累計 ，功能設(shè)定
二、主要技術(shù)指標(biāo)：
頻率測量范圍： 0.1Hz — 100MHz
頻率測量靈敏度：30mv
PPm測量：3KHz — 100MHz
PPm測量精度：≤1 PPm （1×10-6）
（可擴(kuò)展0.1PPm ， 0.01 PPm）
中心頻率：0 Hz — 100 MHz任意設(shè)定
誤差設(shè)置范圍設(shè)定：± 1 — ± 999 PPm任意設(shè)定。
閘門設(shè)...
CX-118A晶振測試儀/晶體測試儀/PPM測試儀
產(chǎn)品簡介：
一、CX-118A是高性價比的晶振測試系統(tǒng)，采用微處理器技術(shù)，實現(xiàn)了智能化測量。本系列儀器采用倒數(shù)計數(shù)技術(shù)實現(xiàn)等精度測量。主要功能：頻率測量，PPM測量，周期測量，數(shù)據(jù)累計 ，功能設(shè)定
二、主要技術(shù)指標(biāo)：
頻率測量范圍： 0.1Hz — 100MHz
頻率測量靈敏度：30mv
PPm測量：3KHz — 100MHz
PPm測量精度：≤1 PPm （1×10-6）
（可擴(kuò)展0.1PPm ， 0.01 PPm）
中心頻率：0 Hz — 100 MHz任意設(shè)定
誤差設(shè)置范圍設(shè)定：± 1 — ± 999 PPm任意設(shè)定。
閘門設(shè)置：四檔 ，0.01s、 0.1s、1s三檔固定，
1檔閘門1ms — 10s可設(shè)，
每1mS為一階梯任意設(shè)定。
周期測量范圍：100 ms — 10 s
晶振穩(wěn)定性：5 ×10-7 / 日
